Дифракционно-временной метод TOFD, I и II уровни (CSWIP Time of flight diffraction Testing, Levels I, II

Название курса

Дифракционно-временной метод TOFD, I и II уровни (CSWIP Time of flight diffraction Testing, Levels I, II

Требования для прохождения подготовки

Требования к стажу:

для уровня I – 1 месяц;

для уровня II – стаж работы в этой области 3 месяца.

Для того, чтобы попасть напрямую на уровень II, стаж работы должен быть 2 -4 месяца.

Требования к подготовке:

Действующий сертификат по ультразвуку (Ultrasonic Testing).

Дополнительная информация:

  • у кандидатов курса должен быть сертификат II уровня по ультразвуковому методу контроля;
  • экзамен, выбранный кандидатами, необходимо сдавать сразу же после окончания курса (на 10-й день);
  • кандидат, прошедший обучение и успешно сдавший экзамен, получит международно признанный сертификат - EN 473/ ISO 9712.

Подготовка в соответствии с требованиями

CSWIP

Цели

  • изучить теоритические основы ToFD;
  • правильно выбирать зонд / клин для проверки сварных стыковых соединений;
  • калибровать и настраивать ультразвуковое оборудование ToFD;
  • находить и оценивать дефекты в корпусе сварного шва;
  • дифференцировать дефекты по геометрическим особенностям;
  • анализ данных сканирования для определения местоположения и размера дефектов в типичных сварных стыковых соединениях;
  • понимать и применять цифровые процессы обработки (SAFT, линеаризация, усреднение, фильтры и т.д.);
  • составлять письменные инструкции;
  • соответствовать требованиям программы CSWIP/PCN.

Специализация слушателей

кандидаты, имеющие сертификацию по УЗК, которые хотят расширить свои знания, повысить квалификацию и получить сертификат по дифракционно-временному методу (ToFD).

Сроки подготовки

15 дней подготовки + 1 день экзамен

уровень I – 40 ч

уровень II – 40 ч

Для желающих сразу получить уровень II – 80 ч.

Содержание курса

  • теория TOFD и принципы дифракции;
  • аппаратные средства ToFD (генераторы импульсов, приемники, устройство управления двигателем, кодирующие устройства);
  • получение и интерпретация данных ToFD;
  • методы ToFD;
  • приложения ToFD;
  • выбор оборудования, калибровка и оптимизация PCS и углов;
  • определение местоположения и размеров дефектов;
  • изучение стандартов;
  • составление отчетов.

Форма подготовки

очная

Экзамен

письменный и практический

Свидетельство

CSWIP/PCN

Стоимость, долларов США

 3500

Минимальный состав группы

10 человек